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de Scanning Auger Microscopy. Además, una técnica de vaciado de las capas atómicas externas es usada normalmente junto con la espectroscopia Auger. El…7 kB (807 palabras) - 00:51 29 ago 2023
El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por scanning electron microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de…15 kB (1623 palabras) - 22:27 4 abr 2024
686H. doi:10.1088/0950-7671/44/9/311. McMullan, D. (1993). «Scanning Electron Microscopy: 1928–1965». University of Cambridge. Consultado el 23 de marzo…133 kB (14 628 palabras) - 01:00 7 mar 2024
mayo de 2023. R. V. Lapshin (2004). «Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology». Nanotechnology (UK: IOP) 15 (9):…23 kB (2464 palabras) - 01:20 18 may 2024
